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專用儀器儀表
010-51298264
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四探針測試儀在材料科學研究中的關鍵作用
DP-WSP-51數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率,擴散層的薄層電阻(亦稱方塊電阻)。
強迫對流空氣橫掠平板放熱系數(shù)測試裝置實驗目的: 測定空氣橫向流過平板表面時的放熱系數(shù);根據(jù)對受強迫運動放熱過程的相似分析,將實驗數(shù)據(jù)整理成準則方程式。
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